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通用集成電路卡(UICC)與終端間大容量存儲接口特性測試方法 第1部分:終端

標(biāo) 準(zhǔn) 號: YD/T 3037.1-2023
替代情況: 替代 YD/T 3037.1-2016
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國信息通信研究院 等
發(fā)布日期: 2023-12-20
實(shí)施日期: 2024-04-01
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更新日期: 2025年05月15日
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內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了終端上通用集成電路卡(UICC)與終端間大容量存儲接口特性的測試方法,主要包括:電氣特性、初始通信協(xié)議的建立、性能測試和功能測試。
本文件適用于支持大容量存儲接口的終端接口的研發(fā)和生產(chǎn)。

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