本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了Ⅲ-Ⅴ族化合物半導(dǎo)體單晶拋光片亞表面損傷的測(cè)試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于GaAs、InP(GaP、GaSb可參照進(jìn)行)等化合物半導(dǎo)體單晶拋光片亞表面損傷的測(cè)量。
鋁和鋁合金化學(xué)轉(zhuǎn)化膜規(guī)范鉬銅合金棒規(guī)范鋁產(chǎn)品用粉末涂料水合三氯化銥銅合金連鑄管高純鈦化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含…鋁加工檢驗(yàn)、測(cè)量和試驗(yàn)設(shè)備配備規(guī)范硝酸鈀
