本標準規(guī)定了硅片或其他半導(dǎo)體晶片上字母數(shù)字標志的編碼規(guī)范，包括標志的形狀和尺寸、字母數(shù)字代碼的定義、要求和字母數(shù)字錯碼檢驗方法等。該標志及關(guān)聯(lián)信息存入數(shù)據(jù)庫，可被簡單的自動光學(xué)字符讀數(shù)（OCR）儀或人工進行獨立、快速識別，確保晶片制造商對晶片標記的一致性。
　本標準適用于在硅片及其他晶片正面或背面的編碼標志。