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首飾 銀覆蓋層厚度的測(cè)定 光譜法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): QB/T 1134-2017
替代情況: 替代 QB/T 1134-1991
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 北京市食品安全監(jiān)控中心等
發(fā)布日期: 2017-01-09
實(shí)施日期: 2017-07-01
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更新日期: 2019年02月24日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀或原子吸收光譜儀測(cè)定首飾銀覆蓋層厚度的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于基體為銅的銀覆蓋層首飾。

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