本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　溫度試驗設(shè)備”；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；
———增加了“術(shù)語和定義”一章；
———增加了“溫度波動度”檢驗項目；
———增加了“溫度均勻度”檢驗項目；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；
———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖量”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時間”檢驗項目；
———增加了“噪聲”檢驗項目；
———刪除了“相對濕度”檢驗項目；
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