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表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜（XPS）數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 33502-2017
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 廈門愛勞德光電有限公司、清華大學(xué)化學(xué)系
發(fā)布日期： 2017-02-28
實(shí)施日期： 2018-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2017年07月26日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分析者使用X射線光電子能譜（XPS)分析試樣后應(yīng)報告信息的最低要求。包括原始記錄和分析記錄的信息。

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